E0348 X線光電子分光分析装置

E0348 X線光電子分光分析装置

産業技術環境研究本部工業試験場

項目 内容
分類 0402:光分析装置
メーカー 島津/KRATOS製 
型式 AXIS-His
概要・用途 極表面の元素分析や各種材料等の表面分析を行う。
仕様 X線源:Mg KαおよびAl Kα(単色化)
測定元素:Li~U
最小分析径:約30μm  
その他:帯電中和機構あり
料金 最初の1時間 11,070円 以降1時間ごとに 2,240円
所有機関 下記宛に「E0348:X線光電子分光分析装置の使用を希望」とお伝えください。

ものづくり支援センター 工業技術支援グループ【LINK
〒060-0819 札幌市北区北19条西11丁目
TEL 011-747-2348 FAX011-726-4057
Email iri-sodan@ml.hro.or.jp
E0348 X線光電子分光分析装置 画像
分類一覧に戻る 設備機器データベースへ戻る