E0348 X線光電子分光分析装置
産業技術環境研究本部工業試験場
項目 | 内容 |
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分類 | 0402:光分析装置 |
メーカー | 島津/KRATOS製 |
型式 | AXIS-His |
概要・用途 | 極表面の元素分析や各種材料等の表面分析を行う。 |
仕様 | X線源:Mg KαおよびAl Kα(単色化) 測定元素:Li~U 最小分析径:約30μm その他:帯電中和機構あり |
料金 | 最初の1時間 11,070円 以降1時間ごとに 2,240円 |
所有機関 | 下記宛に「E0348:X線光電子分光分析装置の使用を希望」とお伝えください。 ものづくり支援センター 工業技術支援グループ【LINK】 〒060-0819 札幌市北区北19条西11丁目 TEL 011-747-2348 FAX011-726-4057 Email iri-sodan@ml.hro.or.jp |
