E0357 走査プローブ顕微鏡
産業技術環境研究本部工業試験場
項目 | 内容 |
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分類 | 0403:電磁気分析装置 |
メーカー | 株式会社日立ハイテクサイエンス |
型式 | E-Sweep L-traceⅡ NanoNaviⅡ |
概要・用途 | 試料表面の凹凸の形状観察と、その摩擦力や粘弾性等の物性分布の測定を行う。 |
仕様 | 大型試料部 ・主な機能:形状像、摩擦像、試料サイズ:150mmφ厚さ22mm、(全面測定可能) 環境制御部 ・主な機能:形状像、摩擦像、粘弾性力像、液中および真空下での測定、試料サイズ:25mmφ厚さ10mm、(中央部4mm角) ソフトウェア ・ビギナーズモード、3次元表示機能、画像重ね合わせ機能、表面粗さ解析、断面解析等 |
料金 | 最初の1時間 8,640円 以降1時間ごとに 2,290円 |
所有機関 | 下記宛に「E0357:走査プローブ顕微鏡の使用を希望」とお伝えください。 ものづくり支援センター 工業技術支援グループ【LINK】 〒060-0819 札幌市北区北19条西11丁目 TEL 011-747-2348 FAX011-726-4057 Email iri-sodan@ml.hro.or.jp |
