E0357 走査プローブ顕微鏡

E0357 走査プローブ顕微鏡

産業技術環境研究本部工業試験場

項目 内容
分類 0403:電磁気分析装置
メーカー 株式会社日立ハイテクサイエンス 
型式 E-Sweep L-traceⅡ NanoNaviⅡ
概要・用途 試料表面の凹凸の形状観察と、その摩擦力や粘弾性等の物性分布の測定を行う。
仕様 大型試料部
・主な機能:形状像、摩擦像、試料サイズ:150mmφ厚さ22mm、(全面測定可能)
環境制御部
・主な機能:形状像、摩擦像、粘弾性力像、液中および真空下での測定、試料サイズ:25mmφ厚さ10mm、(中央部4mm角)
ソフトウェア
・ビギナーズモード、3次元表示機能、画像重ね合わせ機能、表面粗さ解析、断面解析等
料金 最初の1時間 8,640円 以降1時間ごとに 2,290円
所有機関 下記宛に「E0357:走査プローブ顕微鏡の使用を希望」とお伝えください。

ものづくり支援センター 工業技術支援グループ【LINK
〒060-0819 札幌市北区北19条西11丁目
TEL 011-747-2348 FAX011-726-4057
Email iri-sodan@ml.hro.or.jp
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