平成２０年度に次の機器を導入しました。設備使用、依頼試験等でご利用ください。
 

1. マイクロ波評価システム
2. 設備性能測定システム
3. 大型恒温恒湿室
4. 反射・透過測定用積分球

（※）は財団法人JKA補助金（平成２０年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業）により導入した機器です。
 

１. マイクロ波評価システム（※）

【アジレントテクノロジー社製　Ｅ8362C】
 

（用途）

マイクロ波帯における高周波機器評価、電磁シールド材・吸収材料等の評価を行います。
 

（システム構成）

・2ポートベクトルネットワークアナライザ
・タイムドメインゲーティング機能付
・周波数範囲 ： 10MHz～20GHz
・最大ダイナミックレンジ ： 123dB
・キャリブレーション方法 ： メカニカル
・コネクタ ： 50Ω3.5mm（オス）
・ｼｰﾙﾄﾞ率・吸収率・誘電率測定用治具、ｿﾌﾄｳｪｱ付属



 

２. 設備性能測定システム（※）

（用途）

生産工場などの機械・設備の稼働状態の評価を行います。
 

（システム構成）

・携帯型機械性能データ収集装置 ： リオン社製DAｰ20
・振動分析計 ： リオン社製VA-11
・軌跡振動計 ： リオン社製VMｰ90
・デジタルハンドタコメータ ： 小野測器社製HTｰ5500
・波形解析装置 ： ｴｽ･ﾋﾟｰ･ｴｽ･ｴｽ社製SPSSBasesystem15



 

３　大型恒温恒湿室（※）

【ESPEC株式会社製　TBL-2HW6P2A】
 

（用途）

各種大型試験体、製品の環境温度・湿度に対する耐久性及び性能評価を行います。
 

（仕様）

・試験室内寸法 ： 1970(幅)×1970(奥行き)×2100(高さ)mm
・温度制御範囲 ： -30～80℃
・温湿度制御範囲 ： 10～80℃/10～95%
・温湿度調節幅 ： ±0.3℃/±2.5%
・温湿度分布 ： ±0.75℃/±5%



 

４　反射・透過測定用積分球

ラブスフェア社製RT-060-SF
 

（用途）

測定対象の吸収係数、散乱係数などを求めるために、その光学的特性（反射率、透過率）を測定します。
 

（仕様）

・可視、近赤外領域 ： 0.3～1.3ﾏｲｸﾛﾒｰﾄﾙ
・コーティング ： スペクトラフレクト
・積分球の直径 ： 15.24㎝



 

お問い合わせ先
ものづくり支援センター工業技術支援G
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ＦＡＸ：011-726-4057