平成２１年度導入機器の紹介
平成２１年度に次の機器を導入しました。設備使用、依頼試験等でご利用ください。
- 純水製造システム
- X線回折装置
- 調湿機能測定用恒温恒湿槽
- 高感度ガス分析装置
- 旋盤
- 高速プレーナ
- 平面研削盤
- 高感液体クロマトグラフ質量分析装置
- 遠赤外線領域フーリエ変換分光光度計
- サーマル電界放出形走査電子顕微鏡
- 蛍光Ｘ線分析装置
- 振動計測・解析システム
- デジタルマイクロスコープ
- 圧力分布測定装置
- 高速度カメラシステム
（※）は財団法人JKA補助金（平成２１年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業）により導入した機器です。
【ヤマト科学社製純水製造装置WA710、オルガノ社製超純粋製造装置PURELABUltraAnalytic】
（用途）
化学分析に必要不可欠な純水、超微量分析や精密な表面処理技術開発に必要な超純水を製造します。
（システム構成）
１．純水製造装置 【ヤマト社製 WA710】 ２．超純水製造装置 【オルガノ社製 PURELAB Ultra Analytic】
（仕様）
１．純水製造装置 ～水質：JISA4レベル、製造能力：約10L／ｈ
２．超純水製造装置～採取超純水の比抵抗値：18.2MΩ・cm以上、採取超純水のTOC：2ppb以下
超純水最大採水量：最大2L/min
※（財）ＪＫＡ補助事業により導入した機器です。
【リガク社製UltimaIV】
（用途）
金属、セラミックス、鉱物、廃棄物等における粉末、バルク試料の結晶相及び
結晶構造の解析を行います。
（仕様）
X線発生装置出力：3.0kW、試料水平型、集中法と平行ビーム法の切替可能
光学系、試料微小部の測定に対応、室温～1500℃で測定可能
【エスペック社製PR-2KP】
（用途）
建材等について、JISに準拠した調湿機能評価を行います。
（仕様）
温度範囲：-20～100℃、湿度範囲：20～98%RH、平衡調温調湿方式 温度変動幅：±0.3℃、湿度変動幅：±2.0%RH(50～90%RH)
【日本金属化学社製グラビマス+CGMC-B-7000】
（用途）
アルミニウムを溶解せずにアルミニウム中に含まれるガスを分析します。
（仕様）
分析可能成分種：水素、窒素、酸素、塩化水素、一酸化炭素、二酸化炭素、
水、炭化水素
【滝澤鉄工所製TAL-600】
（用途）
金型、機械部品等の円筒形状の高精度切削加工を行います。
（仕様）
ベッド上の振り：600㎜、横送り台上の振り：380㎜、両センタ間の距離：1500㎜
主軸最高速度：1800rpm、半径方向最小目盛：0.02㎜
【FORTE製PX634】
（用途）
木材・樹脂等の板材を一定の厚さに加工します。
（仕様）
基準面加工機は最大加工幅：300mm、板厚調整機は仕上がり加工厚さ：
4～280mm、最大加工幅：600mm、送材速度：5～20m/min
【岡本工作機械製作所製PSG65DX】
（用途）
金型、金属部品等の高精度平面研削加工を行います。
（仕様）
電磁チャック寸法：600㎜×500㎜、加工物の最大高さ：400mm
砥石切込最小目盛：0.1μm、テーブル前後自動送り：間欠・連続
砥石自動切込機能、砥石軸無段変速機能
【ｻｰﾓﾌｨｯｼｬｰｻｲｴﾝﾃｨﾌｨｯｸ製LCQ-Fleet】
（用途）
バイオマス・プロセス開発のための有機化合物解析を行います。
（仕様）
イオントラップ型質量分析装置、質量範囲：m/z = 15～4000
イオン源：ESI，APCI、スキャンパワー：MSn n=10
未知タンパク質のペプチドフラグメントの解析が可能
【JASCO製FT/IR-6300FV】
（用途）
遠赤外（テラヘルツ）領域における物質の分光計測を行います。
（仕様）
干渉計対応波数範囲：15000～20cm-1、（測定可能波数範囲：7800～
50cm-1）、分解：0.07, 0.25, 0.5,1, 2, 4, 8, 16 cm-1、SN比：50000:1 以上
【JEOL製JSM-7001F】
（用途）
金属、セラミックス、高分子試料等の超微細構造の解析や表面分析を行います
（仕様）
加速電圧：0.5～30KV、分解能：1.2nm、（高加速電圧30kV）：3.0nm
（低加速電圧1kV）、倍率：10～1,000,000倍、粒子解析機能を有する
エネルギ－分散型Ｘ線検出器が付属
【Rigaku製ZSX】
（用途）
金属、セラミックス、高分子試料等において高濃度（%）から低濃度(ppm)
までの範囲で定性分析及び定量分析を行います。
（仕様）
X線管：薄窓エンドウィンド型Rh 4kW、測定元素：ほう素からウランまで
微小部測定およびマッピング測定可能（分解能：100μm）最大4８個の
試料交換機内臓、試料寸法：最大φ51mm×30mm、ファンダパラメータ法
による半定量分析可能
【小野測器製LV-1710】
（用途）
機械装置の振動を非接触で計測し、その解析 結果から適切な防振設計を
行えます。
（仕様）
レーザ計測器：レーザドップラー振動計、レーザスポット径：25μm
計測周波数範囲：１Hz～３MHz、計測最大速度：10m/s
計測最小速度分解能：0.3μm/s、測定距離：100mm～5m
振動解析ツールとして固有振動解析、線形動解析、非線形解析が可能
【キーエンス製VHX-1000】
（用途）
微細対象物の画像取得および計測・解析を行います。
（仕様）
レンズ倍率：0～50、50～500、500～5000倍
カメラ機能：撮像素子 211万画素、静止画、解像度 5400万画素、
3CCDモード、階調、16ビット、リアルタイムな手ブレ補正機能、
画像連結機能、深度合成機能、分解能 約1800万画素以上、距離、
面積等の計測機能
【VERG社製】
（用途）
マットレスや椅子の座面などの身体圧力分布を計測、評価します。
（仕様）
座面用、背面用（272g/cm2）、全身用、（136g/cm2）、足裏用、重心動揺計
測用、（2.1kg/cm2）、摩擦力計測用センサマット、PCソフト機能：圧力分布
表示、圧力中心表示、最大・最小値表示、屋外、移動体における計測
自由度：無線によるデータ収集機能
【ナックイメージテクノロジー社製】
（用途）
機械装置等の動作を画像記録し、超低速再生
（仕様）
1024×1024ピクセルのカラー画像を2000コマ／秒で1.3秒記録可能
最高シャッタースピード：１μ秒
カメラ感度 ：ISO5000
お問い合わせ先
ものづくり支援センター工業技術支援G
ＴＥＬ：011-747-2348
ＦＡＸ：011-726-4057