E0340 ハイパースペクトルカメラシステム
産業技術環境研究本部工業試験場
- 分類コード
- 1209：情報工学関連機器・ソフトウェア
近赤外光(900-1700nm)の波長域での画像撮影および解析。 食品や薬品などの目視で認識が困難な異物検査や内部欠陥の選別など。 ...
所有機関：産業技術環境研究本部工業試験場
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E0341 卓上型粒子設計機
産業技術環境研究本部工業試験場
- 分類コード
- 0107：粉砕・分級機器
粉体処理（表面処理、複合化、微細化等）。 ...
E0343 乾式密度測定装置
産業技術環境研究本部工業試験場
- 分類コード
- 1005：一般物理量・物性計測機器
乾式測定法で、水に溶解する食品素材から金属、無機材料までの密度を測定。 ...
E0344 インラインプロファイル測定器
産業技術環境研究本部工業試験場
- 分類コード
- 0111：顕微鏡・光学検査機器
主として対象物の外観検査等に向けた３次元形状計測。 ...
E0345 迅速熱伝導率計
産業技術環境研究本部工業試験場
- 分類コード
- 1005：一般物理量・物性計測機器
試料の熱伝導率を測定。 ...
E0346 走査型電子顕微鏡
産業技術環境研究本部工業試験場
- 分類コード
- 0403：電磁気分析装置
金属、セラミックス、鉱物、高分子材料等の拡大観察および電子線微小部分析。 ...
E0347 Ｘ線回折装置
産業技術環境研究本部工業試験場
- 分類コード
- 0403：電磁気分析装置
金属、セラミックス、鉱物、廃棄物等における粉末、バルク試料の結晶相及び結晶構造の解析を行う。 ...
E0348 Ｘ線光電子分光分析装置
産業技術環境研究本部工業試験場
- 分類コード
- 0402：光分析装置
極表面の元素分析や各種材料等の表面分析を行う。 ...
E0349 電子機器用低温恒温恒湿器
産業技術環境研究本部工業試験場
- 分類コード
- 0103：恒温器・恒温槽
電子機器などに対する各種温湿度試験。 ...
E0350 電界放出形走査電子顕微鏡
産業技術環境研究本部工業試験場
- 分類コード
- 0403：電磁気分析装置
金属、セラミックス、高分子試料等の超微細構造の解析や表面分析を行う。 ...
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